В Опольском политехническом университете была создана специализированная лаборатория материаловедения, оснащенная сканирующим электронным микроскопом JSM-840A с системой энергодисперсионной спектроскопии (EDS), позволяющая работать при увеличениях до 300 000 раз.

Новый микроскоп, в сочетании с рентгеновским микроанализом EDS — является мощным инструментом, позволяющим определить элементный состав образцов размером в несколько микрометров или создать карту распределения элементов в большей области образца с микрометрическим пространственным разрешением.

Сканирующая электронная микроскопия с помощью системы EDS является распространенным методом для определения характеристик поверхностей и структуры материалов — главным образом морфологии и элементного состава. Это позволяет наблюдать как органические, так и минеральные образцы при очень большом увеличении, и его использование очень широко.